Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"kontrolér pro testování s nízkým množstvím vývodů"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Testovací rozhraní integrovaných obvodů s malým počtem vývodů
 Tománek, Jakub ; Dvořák, Vojtěch (oponent) ; Šťáva, Martin (vedoucí práce)
Práce prozkoumává možnosti snížení počtu potřebných vývodů pro testovací rozhraní zákaznických integrovaných obvodů (ASIC). V první části práce jsou popsána existující řešení a shrnuty principy, které je možné za tímto účelem využít. V druhé části práce konkrétní řešení čtyřvodičové, třívodičové, dvouvodičové, jednovodičové a nulavodičové rozhraní. Na závěr jsou shrnuty výhody a nevýhody jednotlivých přístupů pro řešení problematiky a navržených řešení.
Úplný záznam
Testovací rozhraní integrovaných obvodů s malým počtem vývodů
 Tománek, Jakub ; Dvořák, Vojtěch (oponent) ; Šťáva, Martin (vedoucí práce)
Práce prozkoumává možnosti snížení počtu potřebných vývodů pro testovací rozhraní zákaznických integrovaných obvodů (ASIC). V první části práce jsou popsána existující řešení a shrnuty principy, které je možné za tímto účelem využít. V druhé části práce konkrétní řešení čtyřvodičové, třívodičové, dvouvodičové, jednovodičové a nulavodičové rozhraní. Na závěr jsou shrnuty výhody a nevýhody jednotlivých přístupů pro řešení problematiky a navržených řešení.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English